Ellipsométrie spectroscopique - 2 : modélisation d'une couche mince non stoechiométrique

Création d'un modèle d'analyse pour une couche mince non stoechiométrique (Delta Psi 2)

(voir aussi la 1ère vidéo sur la création d'un modèle simple)

Présentation de la procédure de création d'un modèle d'analyse des données ellipsométriques pour l'étude d'une couche mince de SiOx de stoechimotrie non connue. Il faut dans ce cas utiliser un fichiers de dispersions, qui permettent de calculer l'indice de réfraction en fonction de la longueur d'onde à partir d'un nombre restreint de paramètres à ajuster.

Cette vidéo est une introduction rapide et ne dispense pas de la lecture du guide rapide d'optimisation de la modélisation.